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能量分辨及时间分辨的原位电子显微学表征、直接电子探测技术及其应用

时间:2017-10-24 来源: 作者: 摄影: 编辑: 上传:

主讲人:曹潇潇

时间:2017年10月24日(星期二)下午14∶00

地点:科技创新大楼A506报告厅(80人)

报告一介绍:

20世纪50年代以来,电子显微镜在材料研究中被广泛采用。人们已可以较方便地观察材料在纳米尺度上的结构,表征元素种类、及化学键合状态。电子显微镜是纳米时代新材料开发的重要科学手段,但传统的电子显微镜设备只能在高真空状态下对材料进行静态表征,这脱离了材料的真实服役环境,得到的材料信息也较为片面。

原位电镜是指利用电子显微镜实时观察并表征样品在外场作用下,结构与功能动态变化过程的实验技术。得益于外场作用(光、电、热、气氛等条件)及高速、高灵敏度相机的引入,人们能在接近材料真实服役条件的状态下考察样品的功能和失效过程。

与传统电镜的静态实验过程相比,外场控制、视频记录和数据同步是原位试验的三大重要环节;而样品漂移、电子束辐照和体积效应等因素给数据采集和分析带来更多挑战。相机技术的进步对克服上述障碍有着最直接的效用。随着原位相机在探测效率DQE、分辨率、帧率等核心技术指标上的大幅进步,以及基于MEMS器件原位样品杆的市场化,在原子级尺度上动态观察材料的结构和性能演变成为现实。

本次报告将重介绍原位材料测试技术及其相关设备的技术特点,分享最新原位电镜技术及其在新材料(如金属、纳米材料、新能源、生命科学等领域的应用)。以期向大家展示原位透射电镜在先进材料研究中的巨大潜力,为相关领域的科研人员提供科研参考。


报告二介绍:

电子显微技术发展的几十年,也正是人类科技在成像记录方法发展的时期。对电镜图像记录的方式,已从一开始的感光胶片、闪烁体-光纤/透镜耦合式数字CCD、闪烁体-光纤/透镜耦合式数字CMOS,发展到了如今能够提供顶级成像质量和成像速度的“直接电子探测”相机。2013年,电子直接探测技术成功商业化,带动冷冻电镜结构生物学研究飞跃式发展,以过去无法想见的高分辨率解析出了众多意义重大的蛋白分子结构,从而使冷冻电镜技术获得2017年诺贝尔化学奖。

直接电子探测是指成像芯片直接感光电子束,从而省去了传统探测方式中的“电转光-光转电”的两个转化环节,使探测效率大大提高。而K2相机的“电子计数”模式更是让读出噪声进一步归零,从而更大幅度的提升了对弱电子信号的探测能力。此项技术对电子束辐照易损伤材料的电镜表征提供了革命性的进展,可用于各类型的生物样品(尤其是蛋白)及材料样品(分子筛、MOF、COF…)的电镜表征。


主办单位:材料化学工程国家重点实验室


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